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Bundesgesetzblatt Jahrgang 2010 Teil I Nr. 52, ausgegeben zu Bonn am 27. Oktober 2010
Zweite Verordnung zur Änderung der Kostenverordnung für die Zulassung von Messgeräten zur Eichung
Vom 18. Oktober 2010
Auf Grund des § 14 Satz 1 des Eichgesetzes, der zuletzt durch Artikel 1 Nummer 4 Buchstabe b des Gesetzes vom 2. Februar 2007 (BGBl. I S. 58) neu gefasst worden ist, in Verbindung mit dem 2. Abschnitt des Verwaltungskostengesetzes vom 23. Juni 1970 (BGBl. I S. 821) verordnet das Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie:
Artikel 1
ordnung, der gemäß § 77 Absatz 3 der Eichordnung weiter Anwendung finden kann, 8. die Prüfung oder Erteilung von Anerkennungen von Herstellerzeichen für Flaschen und Maßbehältnisse oder deren Änderungen gemäß § 4 der Fertigpackungsverordnung." 2. § 2 wird wie folgt gefasst: ,,§ 2 Gebührenberechnung (1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu dieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche aufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen. (2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere folgende Tätigkeiten: 1. vorbereitende Schriftwechsel und Gespräche, Aufbau und Umbau von Prüfanlagen einschließlich der notwendigen Werkstattarbeiten sowie sonstige Vorarbeiten, 2. die unmittelbare Prüfarbeit am Prüfobjekt, 3. Abbau der Prüfanlagen, Auswertung der Protokolle, Anfertigung der Prüfungsurkunden sowie sonstige Abschlussarbeiten, 4. Besprechungen sowie Schreibarbeiten. (3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach dem Zeitaufwand ferner zu berechnen für 1. Reisezeiten, die innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden, 2. Wartezeiten, die vom Kostenschuldner verursacht worden sind." 3. § 3 wird wie folgt geändert: a) Absatz 1 wird aufgehoben b) Die Absatzbezeichnung ,,(2)" wird gestrichen. 4. § 4 wird aufgehoben. 5. Die §§ 5 und 6 werden die §§ 4 und 5. 6. Folgende Anlage wird angefügt:
Die Zulassungskostenverordnung vom 22. Dezember 1992 (BGBl. I S. 2471), die zuletzt durch Artikel 18 des Gesetzes vom 10. November 2001 (BGBl. I S. 2992) geändert worden ist, wird wie folgt geändert: 1. § 1 wird wie folgt gefasst: ,,§ 1 Anwendungsbereich Für jede der nachstehend aufgeführten Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des Eichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach dieser Verordnung erhoben: 1. die Prüfung, Bewertung oder Zulassung von Messgeräten gemäß § 7c Absatz 2 in Verbindung mit Anlage 9 Nummer 2 der Eichordnung, gemäß den §§ 18 bis 19 oder gemäß § 28 der Eichordnung, 2. die Verlängerung, Änderung oder Ergänzung von erteilten Zulassungsbescheiden gemäß § 20 Absatz 1 oder § 26 Absatz 2 oder 3 der Eichordnung, 3. die Übertragung einer Bauartzulassung gemäß § 27 der Eichordnung, 4. die Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln der zuständigen Behörden und der staatlich anerkannten Prüfstellen gemäß § 13a Nummer 2 in Verbindung mit § 13 Absatz 1 Nummer 2 des Eichgesetzes, 5. die Feststellung der Gleichwertigkeit von Prüfungen oder Kennzeichnungen von Messgeräten gemäß § 80 Absatz 2 und 3 der Eichordnung, 6. die Vergleichsmessungen von Dosimetern gemäß § 2 Absatz 3 Satz 4 der Eichordnung, 7. die Änderungen an bestehenden Bescheinigungen über die Anerkennung von Herstellerzeichen für Schankgefäße gemäß § 45 Absatz 3 der Eich-
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,,Anlage (zu § 2)
Für die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nachstehend aufgeführten Stundensätze berechnet:
Themenbereich Stundensatz Euro Fachbereich
Themenbereich 1 Akustik, Ultraschall, Beschleunigung
Kinematik 75 Schall Angewandte Akustik
Themenbereich 2 Durchfluss 80
Gase Flüssigkeiten Wärme
Themenbereich 3 Elektrizität und Magnetismus
Gleichstrom und Niederfrequenz Hochfrequenz und Felder Elektrische Energiemesstechnik 70 Quantenelektronik Halbleiterphysik und Magnetismus Elektrische Quantenmetrologie
Themenbereich 4 Ionisierende Strahlung
Radioaktivität Strahlentherapie und Röntgendiagnostik Strahlenschutzdosimetrie 78 Ionenbeschleuniger und Referenzstrahlungsfelder Neutronenstrahlung Grundlagen der Dosimetrie
Themenbereich 5 Länge, dimensionelle Metrologie
Bild- und Wellenoptik Quantenoptik und Längeneinheit Oberflächenmesstechnik 76 Dimensionelle Nanometrologie Koordinatenmesstechnik Interferometrie an Maßverkörperungen
Themenbereich 6 Masse und abgeleitete Größen Themenbereich 7 Metrologie in der Chemie
Masse 75 Festkörpermechanik Metrologie in der Chemie 73 Gasanalytik und Zustandsverhalten Stoffeigenschaften und Druck
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Stundensatz Euro
Themenbereich
Fachbereich
Themenbereich 10 Thermometrie 78
Detektorradiometrie und Strahlungsthermometrie Temperatur Kryo- und Vakuumphysik
Sonstige Leistungen
76 69 Artikel 2
Gesetzliches Messwesen und Technologietransfer Justitiariat
".
Diese Verordnung tritt am 1. Dezember 2010 in Kraft.
Der Bundesrat hat zugestimmt.
Berlin, den 18. Oktober 2010 Der Bundesminister f ü r W i r t s c h a f t u n d Te c h n o l o g i e Rainer Brüderle